离子迁移谱（IMS）工作原理

离子迁移谱（IMS）是分离检测混合分析物中气体化合物的一种分析技术。它的分离以特定的漂移时间为基础，即电离的化合物需要在一个定义的电场通过固定的距离（漂移管）。

相比于飞行时间质谱（TOF-MS）等其他技术，离子在大气压力下相对于惰性漂移气体流进行迁移。由于空间结构减缓与漂移气体分子碰撞的频繁，所以每种物质的漂移时间由其离子质量和几何结构确定。因此，离子迁移谱（IMS）甚至可以区分同分异构体。检测时，通过静电计测得离子电流结果，作为时间函数。可以通过几种技术获得分子的大气电离。G.A.S.采用由低辐射氚（H3）源引发的软化学电离（低于国际原子能机构（IAEA）或欧洲原子能共同体（EURATOM）的豁免限制）。

在第一步中，β-辐射器发射的快电子与漂移气体环境[1]发生碰撞后，级联反应生成了反应物离子。即形成了所谓的反应离子峰（RIP），它表示所有形成的可用离子总和。在氮气或空气中，反应物离子为H+（H2O）n(正模式)或O2-（H2O）n(负模式)。当分析物对反应物离子的亲和力高于水的亲和力时，分析物的化学电离通过反应物离子会导致特定分析物离子的形成。水的质子亲和力为691千焦/摩尔，因此所有具有更高的质子亲和力的分子会因为质子转移发生电离，通常杂原子有机化合物会出现这种情况。